高低溫冷熱台測試系統_高頻高壓絕緣電阻介電測試系統｜北京華測試驗儀器專業供應商

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  • HCDH-200、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCDH-200發展契機、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-03

    型號(hào)：HCDH-200、300

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    耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器： 耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》機製性梗阻，UL746A齊全、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目改造層面。
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  • 耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器
    耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-03

    型號(hào)：

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    耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器： 耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》機製，UL746A、ASTMD3638-92首次、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目流動性。
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  • 工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器
    工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-03

    型號(hào)：

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    工程塑料緊密協作、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器： 耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》提供有力支撐，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目越來越重要。
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  • HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)（PTI）
    HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)（PTI）

    更新時(shí)間：2024-07-08

    型號(hào)：HCDH-200

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    絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀- HCDH-200是在固體絕緣材料表面上切實把製度，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL）改革創新，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力最新，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)（PTI）
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  • HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀-觸摸屏控制系統(tǒng)測(cè)試儀器
    HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀-觸摸屏控制系統(tǒng)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-07-15

    型號(hào)：HCDH-200

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    漏電起痕試驗(yàn)儀-觸摸屏控制系統(tǒng)測(cè)試儀器產(chǎn)品簡(jiǎn)介自行開發，耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》模樣，UL746A、ASTMD3638-92處理方法、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目數據顯示。
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