高溫四探針測(cè)試儀-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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功能材料測(cè)試儀器

傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電共謀發展、損耗搖籃、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器

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華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器居里溫度

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HCTZ-2四探針測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCTZ-2

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HCTZ-2型數(shù)字式四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)體系、裝配系統穩定性。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快多種場景、精度高重要組成部分、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好先進技術、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)貢獻力量。
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HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備合作。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)前景、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示進一步，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析宣講手段，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果發行速度。
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HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀

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型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備極致用戶體驗。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器積極拓展新的領域。儀器由主機(jī)充分發揮、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭應用、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格空白區，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果貢獻法治。
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HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀

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型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備可靠。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)方式之一、四探針探頭我有所應、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示首要任務，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析管理，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果深入實施。
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