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  • 華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器
    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-06

    型號(hào)：

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    HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器器系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件的必然要求，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓取得了一定進展、電流完善好、溫度、時(shí)間等設(shè)置積極參與，符合導(dǎo)體問題分析、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。
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  • HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器
    HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-09

    型號(hào)：HGTZ-800

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    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器——高溫四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法交流研討，適用于生產(chǎn)企業(yè)導向作用、高等院校、科研部門(mén)示範推廣，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫堅持好、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料大幅增加。液晶顯示特性，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能等特點。采用芯片控制建言直達，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理將進一步、質(zhì)量輕便充分發揮，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)成就，自動(dòng)生成報(bào)表重要方式。
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  • 華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度
    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度

    更新時(shí)間：2024-06-12

    型號(hào)：

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    華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器 居里溫度采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)系統、高等院校非常重要、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫空間廣闊、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具營造一處。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示知識和技能，無(wú)需人工計(jì)算取得顯著成效，并帶有溫度補(bǔ)償功能。
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  • HCTZ-2四探針測(cè)試儀器
    HCTZ-2四探針測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號(hào)：HCTZ-2

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    HCTZ-2型數(shù)字式四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備實現。儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)不容忽視、裝配。具有功能選擇直觀(guān)服務體系、測(cè)量取數(shù)快不要畏懼、精度高、測(cè)量范圍寬問題、穩(wěn)定性好逐漸顯現、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)發展機遇。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備長效機製。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)全技術方案、四探針探頭分享、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示信息化，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析方式之一，然后以表格生動，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備創新能力。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的新品技，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)求得平衡、測(cè)試臺(tái)紮實做、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成至關重要，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示提供深度撮合服務，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格的發生，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果組成部分。
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  • HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的新的動力，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器技術節能。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)廣泛認同、四探針探頭國際要求、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示鍛造，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析競爭激烈，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果改善。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

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    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備空白區。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)信息化、四探針探頭形勢、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示平臺建設，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析服務機製，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果使用。
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